Inmetro realiza 2ª Jornada de Pós-Graduação em Xerém

Evento apresenta pesquisas e debates sobre inovação, metrologia e ciência com participação de ex-alunos e especialistas do setor produtivo (Foto: Divulgação)

Entre os dias 10 e 11 de novembro, o Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) promove, no Campus Dr. Armênio Lobo da Cunha Filho, em Xerém, a 2ª Jornada de Pós-Graduação, organizada pelo Centro de Educação e Disseminação em Infraestrutura da Qualidade (Cediq). O evento é dedicado à apresentação e avaliação dos trabalhos desenvolvidos pelos discentes dos Programas de Pós-Graduação (PPGs) da instituição.

A jornada contará com a presença de ex-alunos e profissionais convidados que abordarão temas estratégicos nas áreas de ciência, tecnologia, metrologia e inovação. Embora voltada especialmente para alunos e docentes, a programação é aberta ao público interessado, promovendo o diálogo entre a pesquisa acadêmica e as demandas do setor produtivo.

A abertura será conduzida por Tatiana Claro dos Santos, chefe da Coordenação de Ensino, Difusão e Informação em Qualidade (Cediq). Em seguida, Marcos Francisco Barbosa Assis, consultor do Sebrae-RJ, ministrará a palestra “Empreendedorismo e Inovação”.

Ao longo do dia 10, a programação contará com apresentações de ex-alunos e discentes dos programas de Metrologia em Química, Metrologia e Biotecnologia, que apresentarão pesquisas sobre inteligência artificial, tomografia óptica e calibração de instrumentos laboratoriais.

No dia 11, o diretor de Inovação, Planejamento e Articulação Institucional (Dplan), Maycon Danylo Araújo Monteiro, abrirá o ciclo de palestras, seguido de especialistas convidados que tratarão de temas relevantes para a formação e o desenvolvimento científico:

• Carlos Alberto Aragão de Carvalho Filho, ex-presidente do CNPq e ex-diretor de Inovação do Inmetro, abordará “A Finep no apoio à ciência, tecnologia e inovação” (às 9h10).
• Rodney Murito, coordenador de Metrologia e Processos de Medições da Michelin América do Sul, falará sobre “A importância da formação em metrologia para a indústria brasileira”.
• Alexandre Mendes, professor e pesquisador do Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ) e vice-presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM), apresentará “O papel da SBM na formação do metrologista”.

As sessões de apresentação de trabalhos, conduzidas por alunos e ex-alunos, destacam a diversidade de temas que caracterizam os Programas de Pós-Graduação do Inmetro, abrangendo áreas como metrologia aplicada, biotecnologia, inteligência artificial e inovação tecnológica.

A iniciativa reafirma o compromisso do Inmetro com a pesquisa e a inovação, fortalecendo a formação de profissionais qualificados e o intercâmbio de experiências entre academia, indústria e governo.

A programação completa e o perfil dos palestrantes estão disponíveis no portal do Inmetro.

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