Parceria busca integrar metrologia e tecnologia para fortalecer a produção nacional de chips e ampliar a soberania tecnológica do país (Foto: Divulgação/Inmetro)
O Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) e a Ceitec S.A., empresa pública vinculada ao Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (MCTI), iniciaram uma articulação para fortalecer a indústria nacional de semicondutores. A aproximação foi discutida durante visita técnica da equipe do Inmetro à sede da Ceitec, em Porto Alegre (RS), no dia 30 de setembro, com foco na identificação de áreas de convergência e na criação de uma agenda de cooperação científica e tecnológica.
De acordo com Danielle Assafin Vieira Souza Silva, diretora de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia (Dimci) do Inmetro, a parceria tem um potencial estratégico para o país. “A produção de semicondutores é um processo altamente metrológico. Nosso objetivo é compreender os desafios tecnológicos da Ceitec e estruturar uma agenda positiva de cooperação que apoie a indústria brasileira”, afirmou.
Para Omer Pohlmann Filho, superintendente do Inmetro no Rio Grande do Sul (Surrs), a integração entre as instituições fortalece a inovação nacional. “Estar próximo da Ceitec é estratégico. É uma empresa pública gaúcha que representa a capacidade do Brasil em avançar na produção de semicondutores. O apoio do Inmetro amplia a competitividade da indústria e reforça a soberania tecnológica do país”, destacou.
Além do impacto nacional, a parceria também representa um avanço para o Rio Grande do Sul, onde a Ceitec reúne profissionais altamente qualificados e infraestrutura de ponta. A expectativa é que a cooperação com o Inmetro consolide o estado como um polo de inovação em semicondutores, atraindo novos investimentos e fortalecendo o ecossistema científico e tecnológico regional.
Durante o encontro, a equipe da Dimci apresentou as possibilidades de apoio técnico do Inmetro em áreas como ótica, elétrica e química, além de destacar o parque de microscopia eletrônica, que opera na modalidade multiusuário e pode ser utilizado por outras instituições, incluindo a Ceitec.
O objetivo é avaliar como o uso da microscopia de alta precisão, aplicada ao processo de fabricação de chips, pode gerar sinergias entre os laboratórios e impulsionar a pesquisa e o desenvolvimento tecnológico.
Segundo Eric Fabris, diretor técnico da Ceitec, a iniciativa abre espaço para avanços conjuntos em temas estratégicos. “A visita reforça a possibilidade de cooperação institucional. Identificamos áreas prioritárias como rastreabilidade em escala nanométrica e o uso da microscopia eletrônica como suporte às atividades de P&D. Planejamos uma visita técnica recíproca para aprofundar as discussões e embasar um futuro acordo de cooperação”, afirmou.
Para o Inmetro, o movimento representa um avanço estratégico nacional, ao alinhar a metrologia científica às demandas de um setor altamente especializado e essencial para a autonomia tecnológica do Brasil.
Participaram do encontro Danielle Assafin Vieira Souza Silva (Dimci/Inmetro), Oleksii Kuznetsov (Divisão de Metrologia de Materiais), Braulio Soares (Laboratório de Microscopia), Omer Pohlmann Filho e Joel Franceschini (Surrs/Inmetro), além de Eric Fabris e Luiz Antônio Piccoli Junior, da Ceitec.
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